EUV und Röntgen-Mikroskopie

Unser Leistungsangebot

Die Mikroskopie mit Strahlung aus dem extremen Ultraviolett-Bereich (EUV) bzw. mit weicher Röntgenstrahlung (insbesondere mit Wellenlängen im Bereich 2 nm bis 13 nm) kommt in der strukturellen Analytik oder bei materialwissenschaftlichen Fragestellungen zum Einsatz und ermöglicht die hochaufgelöste Untersuchung z. B. biologischer Proben.

Mit einer Kryo-Fixierung lassen sich beispielsweise dreidimensionale Bilder von ganzen Zellen mit einer Auflösung im Bereich einiger zehn Nanometer anfertigen. Bei Einsatz von Markern kann damit auf ein zeitaufwändiges Anfertigen von Schnitten und anschließender Untersuchung mit dem Elektronenmikroskop verzichtet werden. In der Halbleiterelektronik lassen sich stromdurchflossene Leiter mit hoher Auflösung untersuchen, sodass die Entstehung von Fehlstellen sichtbar gemacht werden kann.

Der effektive Einsatz dieser Technologie erfordert große Strahlungsflüsse auf der Probe, die üblicherweise nur an Elektronenspeicherringen erzeugt werden können. Die Wissenschaftler des Fraunhofer ILT entwickeln vor diesem Hintergrund Plasmaquellen, bei denen gepulste Hochstromgasentladungen genutzt werden, sowie entsprechende lichtstarke Quelle-Kollektorsysteme, die den Bau leistungsfähiger EUV- und Röntgenmikroskope im Labormaßstab ermöglichen. Die umfangreichen Erfahrungen mit diesem Strahlquellenkonzept werden insbesondere auch im Bereich der EUV-Lithografie genutzt.

Das Leistungsangebot umfasst Machbarkeitsstudien zu kundenspezifischen Aufgabenstellungen, die Entwicklung von angepassten Strahlungsquellen und Mikroskopieverfahren sowie individuelle Beratung.

Entladungsbasierte EUV-Strahlungsquelle für Wellenlängen im Bereich 2 - 20 nm.
© Fraunhofer ILT, Aachen.
Entladungsbasierte EUV-Strahlungsquelle für Wellenlängen im Bereich 2 - 20 nm.
EUV-Nanostrukturierungsanlage.
© Fraunhofer ILT, Aachen.
EUV-Nanostrukturierungsanlage.
Quelle-Kollektorsystem für extreme ultraviolette Strahlung.
© Fraunhofer ILT, Aachen.
Quelle-Kollektorsystem für extreme ultraviolette Strahlung.

Plasmabasierte EUV-Strahlquellen

  • Strahlquellen für die EUV-Lithografie
  • Strahlquellen für die Röntgenmikroskopie
  • Leistungselektronik
  • Generatoren für hohe gepulste Ströme, schnelle Datenerfassung und Regelung gepulster Strahlungsquellen

Plasmaerzeugung und Diagnostik

  • Gasentladungs- und laserinduzierte Plasmen
  • Spektroskopie vom weichen Röntgen- bis IR-Bereich
  • Bestimmung von Strahlungsflüssen
  • Bestimmung von Plasmaparametern
  • Hochgeschwindigkeitsfotografie
  • Modellierung von Plasmen

Systemlösungen

  • Auslegung optischer Systeme für EUV-Applikationen
  • Optiksimulation
  • Integration von Plasmastrahlungsquellen
  • Realisierung von Gesamtsystemen

Applikationen mit EUV-Strahlung

  • Röntgenmikroskopie
  • EUV-Mikroskopie für die Maskeninspektion
  • EUV-Reflektometrie, Analyse von Oberflächen und Schichtsystemen
  • Nanostrukturierung mit Interferenzlithografie

Märkte

Lasertechnik trägt in unterschiedlichen Märkten zur Lösung anspruchsvoller Aufgabenstellungen bei. Ob als Werkzeug in der Automobilfertigung, als Messmittel im Umweltbereich, als Diagnose- oder Therapieinstrument in der Medizintechnik oder als Kommunikationsmedium in der Raumfahrttechnik, der Laser bietet vielfache Einsatzmöglichkeiten mit hoher Produktivität und hoher Effizienz.

Auf den Markt-Webseiten finden Sie weitere Informationen und eine Auswahl aus unserem Angebot.

 

Forschen Sie mit uns!

Bei Fragen zu übergreifenden Themen nehmen Sie einfach Kontakt mit uns auf! Unsere Ansprechpartner stehen Ihnen gerne zur Verfügung.

Unsere Leistungsangebote decken ein weites Themenspektrum ab. Verwandte Themen und weitere Schwerpunkte aus Forschung und Entwicklung finden Sie unter den folgenden Links.